授業の目的 【日本語】
Goals of the Course(JPN) | | ナノ材料の物性を理解するためには、その構造および電子構造を正しく評価する必要がある。本セミナーでは、微粒子および薄膜の表界面におけるナノスケールの構造および物性評価の基礎となる電子顕微鏡学、回折物理学、結晶学、物性物理学の習得を目的として、教科書の輪講を行う。さらに、ナノ材料が示す特異な物性やダイナミクスについても取り上げ理解を深める。
達成目標：１）ナノ材料特有の物性を理解する。２）電子顕微鏡像および回折図形から結晶構造、欠陥構造および表界面構造について知見を得ることができる。３）対象となるナノ材料に対して適切な構造および物性評価法を提案できる。４）電子顕微鏡分野で研究指導ができる。 |
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授業の目的 【英語】
Goals of the Course | | | Seminars on the fabrication, characterization and application of nanocrystalline materials using original papers as a text. |
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到達目標 【日本語】
Objectives of the Course(JPN)) | | ナノ材料の物性を理解するためには、その構造および電子構造を正しく評価する必要がある。本セミナーでは、微粒子および薄膜の表界面におけるナノスケールの構造および物性評価の基礎となる電子顕微鏡学、回折物理学、結晶学、物性物理学の習得を目的として、教科書の輪講を行う。さらに、ナノ材料が示す特異な物性やダイナミクスについても取り上げ理解を深める。
達成目標：１）ナノ材料特有の物性を理解する。２）電子顕微鏡像および回折図形から結晶構造、欠陥構造および表界面構造について知見を得ることができる。３）対象となるナノ材料に対して適切な構造および物性評価法を提案できる。４）電子顕微鏡分野で研究指導ができる。 |
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到達目標 【英語】
Objectives of the Course | | | Seminars on the fabrication, characterization and application of nanocrystalline materials using original papers as a text. |
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バックグラウンドとなる科目【日本語】
Prerequisite Subjects | | | 電磁気学、量子力学、熱・統計力学、物性物理学、凝縮物性学特論I、凝縮物性学特論II |
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バックグラウンドとなる科目【英語】
Prerequisite Subjects | | | Crytal Physics,Material Physics |
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授業の内容【日本語】
Course Content | | 1. 電子光学、2. 電子顕微鏡装置、3. 電子と試料の相互作用、4. アモルファス試料に対する散乱および位相コントラスト、5. 電子回折、6. 種々の電子回折および応用、7. 結晶試料および格子欠陥の結像、8. 特性X線および電子エネルギー分光による元素分析、9. 電子線損傷
毎回の授業前に、内容について予習準備をすること。 |
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授業の内容【英語】
Course Content | | | 1. Electron optics, 2. Electron microscope, 3. Interaction between electrons and specimens, 4. Scattering by amorphous specimen and its phase contrast, 5. Electron diffraction, 6. Various modes of electron diffraction and applications, 7. Imaging of crystalline specimens and lattice defects, 8. Elemental analysis by EDX and EELS, 9. Radiation damages by fast electrons |
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成績評価の方法と基準【日本語】
Course Evaluation Method and Criteria | | | 口頭諮問により、目標達成度を評価する。100点満点で 60点以上を合格とする。 |
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成績評価の方法と基準【英語】
Course Evaluation Method and Criteria | | |
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履修条件・注意事項【日本語】
Course Prerequisites / Notes | | |
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履修条件・注意事項【英語】
Course Prerequisites / Notes | | | No registration requirement |
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教科書【日本語】
Textbook | | 1. 電子光学、2. 電子顕微鏡装置、3. 電子と試料の相互作用、4. アモルファス試料に対する散乱および位相コントラスト、5. 電子回折、6. 種々の電子回折および応用、7. 結晶試料および格子欠陥の結像、8. 特性X線および電子エネルギー分光による元素分析、9. 電子線損傷
毎回の授業前に、内容について予習準備をすること。 |
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教科書【英語】
Textbook | | | 1. Electron optics, 2. Electron microscope, 3. Interaction between electrons and specimens, 4. Scattering by amorphous specimen and its phase contrast, 5. Electron diffraction, 6. Various modes of electron diffraction and applications, 7. Imaging of crystalline specimens and lattice defects, 8. Elemental analysis by EDX and EELS, 9. Radiation damages by fast electrons |
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参考書【日本語】
Reference Book | | 田中信夫、「電子線ナノイメージング」
田中通義、「やさしい電子回折」
今野豊彦、「物質からの回折と結像」 |
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参考書【英語】
Reference Book | | | Transmission Electron Microscopy I - IV, David. B. Williams and Barry C. Carter, Springer. |
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授業時間外学習の指示【日本語】
Self-directed Learning Outside Course Hours | | |
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授業時間外学習の指示【英語】
Self-directed Learning Outside Course Hours | | |
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使用言語【英語】
Language used | | |
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使用言語【日本語】
Language used | | |
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授業開講形態等【日本語】
Lecture format, etc. | | |
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授業開講形態等【英語】
Lecture format, etc. | | |
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遠隔授業（オンデマンド型）で行う場合の追加措置【日本語】
Additional measures for remote class (on-demand class) | | |
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遠隔授業（オンデマンド型）で行う場合の追加措置【英語】
Additional measures for remote class (on-demand class) | | |
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