学部・大学院区分
Undergraduate / Graduate		工・博前
時間割コード
Registration Code		2842361
科目区分【日本語】
Course Category
専門科目
科目区分【英語】
Course Category
Specialized Courses
科目名　【日本語】
Course Title		情報デバイス・センシング工学特論
科目名　【英語】
Course Title		Advanced Information Device and Sensing Engineering
コースナンバリングコード
Course Numbering Code
担当教員　【日本語】
Instructor		高橋 康史 ○ 内山 剛
担当教員　【英語】
Instructor		TAKAHASHI Yasufumi ○ UCHIYAMA Tsuyoshi
単位数
Credits		2
開講期・開講時間帯
Term / Day / Period		秋 火曜日 ４時限
Fall Tue 4
授業形態
Course style		講義
Lecture
学科・専攻【日本語】
Department / Program
電子工学専攻
学科・専攻【英語】
Department / Program
Department of Electronics
必修・選択【日本語】
Required / Selected
選択
必修・選択【英語】
Required / Selected
Choince


授業の目的　【日本語】
Goals of the Course(JPN)
走査型プローブ顕微鏡を中心としたナノ計測技術、イメージング技術、センシング技術について紹介する。
授業の目的　【英語】
Goals of the Course
Nanoscale measurement technology, imaging technology, and sensing technology using a scanning probe microscope will be introduced.
到達目標　【日本語】
Objectives of the Course(JPN))
様々な走査型プローブ顕微鏡の活用方法を理解する。
到達目標　【英語】
Objectives of the Course
バックグラウンドとなる科目【日本語】
Prerequisite Subjects
なし
バックグラウンドとなる科目【英語】
Prerequisite Subjects
-
授業の内容【日本語】
Course Content
走査型プローブ顕微鏡の原理と活用に関して紹介する。
１．走査型プローブ顕微鏡の計測原理
２．原子間力顕微鏡１
３．原子間力顕微鏡２
４．原子間力顕微鏡３
５．走査型トンネル顕微鏡
６．走査型電気化学顕微鏡１
７．走査型電気化学顕微鏡２
８．走査型近接場光学顕微鏡
９．走査型イオンコンダクタンス顕微鏡１
１０．走査型イオンコンダクタンス顕微鏡２
１１．走査型電気化学セル顕微鏡
１２．グループワーク１
１３．グループワーク２
授業の内容【英語】
Course Content
This lecturer introduces the principles and applications of scanning probe microscopes.
1. Measurement Principle of Scanning Probe Microscope
2. Atomic force microscope 1
3. Atomic force microscope 2
4. Atomic force microscope 3
5. Scanning tunneling microscope
6. Scanning electrochemical microscope 1
7. Scanning electrochemical microscope 2
8. Scanning near-field optical microscope
9. Scanning ion conductance microscope 1
10. Scanning ion conductance microscope 2
11. Scanning electrochemical cell microscope
12. Group work 1
13. Group work 2
成績評価の方法と基準【日本語】
Course Evaluation Method and Criteria
授業の最終週にグループで研究調査の結果を発表し、その発表内容をもとに評価する。
成績評価の方法と基準【英語】
Course Evaluation Method and Criteria
Students present scanning probe microscopy research in the last class. The score will be evaluated based on the content of their presentations.
履修条件・注意事項【日本語】
Course Prerequisites / Notes
なし
履修条件・注意事項【英語】
Course Prerequisites / Notes
-
教科書【日本語】
Textbook
なし
教科書【英語】
Textbook
-
参考書【日本語】
Reference Book
参考書【英語】
Reference Book
授業時間外学習の指示【日本語】
Self-directed Learning Outside Course Hours
なし
授業時間外学習の指示【英語】
Self-directed Learning Outside Course Hours
-
使用言語【英語】
Language used
使用言語【日本語】
Language used
授業開講形態等【日本語】
Lecture format, etc.
対面授業
授業開講形態等【英語】
Lecture format, etc.
Onsite class
遠隔授業（オンデマンド型）で行う場合の追加措置【日本語】
Additional measures for remote class (on-demand class)
遠隔授業（オンデマンド型）で行う場合の追加措置【英語】
Additional measures for remote class (on-demand class)