授業の目的 【日本語】
Goals of the Course(JPN) | | 透過型電子顕微鏡法に立脚した材料評価、解析技術を基軸として、主にセラミック材料に関する 組織制御、機能制御、に関する実験、演習をとおして、研究手法、得られた研究成果のまとめ方 、プレゼン能力を身に着ける。
この講義を習得することにより、以下のことができるようになることを目標とする。
1. 透過型電子顕微鏡の構造の概略、操作法や得られる情報の基礎を理解し、透過型電子顕微鏡を用いた微細構造解析に関する基礎的な技術課題に対応できるようにする。
2. 電子線回折図形の解釈に関する基礎的な内容を理解し、微細領域の構造解析に関する課題を解くことができる。
3. 組成分析手法の方法やデータ解析に関する基礎的な内容を理解し、微細領域の組成計測に関する課題を解くことができる。 |
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授業の目的 【英語】
Goals of the Course | | Transmission electron microscopy is one of the very powerful analytical techniques for performing material analysis at nano-scale portions. In this lecture, we will introduce basics of transmission electron microscopy and the examples of application to material analysis. Lectures will be given on the contents that are considered to be the minimum necessary for actually analyzing the material. Exercises will be conducted as necessary so that the acquired knowledge can be used.
The objective of this lecture is as follows.
1. To understand the outline of the structure of the transmission electron microscope, the operation method, and the basics of the information obtained, and to be able to respond to basic technical issues related to microstructure analysis using the transmission electron microscope.
2. To understand the basic contents of interpretation of electron diffraction patterns and solve problems related to structural analysis of nano-scale regions.
3. To understand the basics of compositional analysis methods and data analysis, and solve problems related to composition measurement in fine regions. |
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到達目標 【日本語】
Objectives of the Course(JPN)) | | 透過型電子顕微鏡法に立脚した材料評価、解析技術を基軸として、主にセラミック材料に関する 組織制御、機能制御、に関する実験、演習をとおして、研究手法、得られた研究成果のまとめ方 、プレゼン能力を身に着ける。
この講義を習得することにより、以下のことができるようになることを目標とする。
1. 透過型電子顕微鏡の構造の概略、操作法や得られる情報の基礎を理解し、透過型電子顕微鏡を用いた微細構造解析に関する基礎的な技術課題に対応できるようにする。
2. 電子線回折図形の解釈に関する基礎的な内容を理解し、微細領域の構造解析に関する課題を解くことができる。
3. 組成分析手法の方法やデータ解析に関する基礎的な内容を理解し、微細領域の組成計測に関する課題を解くことができる。 |
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到達目標 【英語】
Objectives of the Course | | Transmission electron microscopy is one of the very powerful analytical techniques for performing material analysis at nano-scale portions. In this lecture, we will introduce basics of transmission electron microscopy and the examples of application to material analysis. Lectures will be given on the contents that are considered to be the minimum necessary for actually analyzing the material. Exercises will be conducted as necessary so that the acquired knowledge can be used.
The objective of this lecture is as follows.
1. To understand the outline of the structure of the transmission electron microscope, the operation method, and the basics of the information obtained, and to be able to respond to basic technical issues related to microstructure analysis using the transmission electron microscope.
2. To understand the basic contents of interpretation of electron diffraction patterns and solve problems related to structural analysis of nano-scale regions.
3. To understand the basics of compositional analysis methods and data analysis, and solve problems related to composition measurement in fine regions. |
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バックグラウンドとなる科目【日本語】
Prerequisite Subjects | | |
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バックグラウンドとなる科目【英語】
Prerequisite Subjects | | |
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授業の内容【日本語】
Course Content | | 第1～3回 透過型電子顕微鏡の概要と構造
第4回 電子線回折1
第5回 電子線回折2
第6回 明視野観察と暗視野観察1
第7回 明視野観察と暗視野観察2
第8回 ここまでの復習と演習
第9回 電磁レンズの収差と高分解能観察1
第10回 電磁レンズの収差と高分解能観察2
第11回 組成分析（EDS)
第12回 状態分析（EELS)
第13回 走査透過型電子顕微鏡1
第14回 走査透過型電子顕微鏡2
毎回の講義前に講義中に配布した資料の確認を行っておくこと。講義終了後は、講義中に課された課題を自分で解くこと。これ以外にも適宜レポート課題を課すので、それを解いて提出すること。
なお、オンデマンド講義資料（実施する場合には）、講義資料などについての閲覧、ダウンロード期間は講義日を含めた一週間以内とする。 |
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授業の内容【英語】
Course Content | | This lecture will be given by Japanese
Part 1-3 Outline and Structure of Transmission Electron Microscope
Part 4 Electron diffraction 1
5th electron beam diffraction 2
6. Bright-field and dark-field observation 1
7) Bright-field and dark-field observation 2
8）Review and exercise
9 Electromagnetic lens aberration and high-resolution observation 1
10. Aberration of electromagnetic lenses and high-resolution observation 2
11）composition analysis（EDS)
12）State analysis（EELS)
13. Scanning transmission electron microscope 1
14. Scanning transmission electron microscope 2
Before each lecture, students are required to review the materials distributed during the lecture. After the lecture, students are expected to solve the assignments given during the lecture by themselves. In addition to these assignments, students are required to solve and submit reports as necessary.
The period for viewing and downloading on-demand lecture materials (if available) and lecture handouts will be limited to one week, including the day of the lecture. |
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成績評価の方法と基準【日本語】
Course Evaluation Method and Criteria | | 透過型電子顕微鏡法に関する結像の原理や回折図形取得の原理、組成分析手法への理解、また、それらに関する解析方法などを理解できていることが合格の判断となる。
講義中に内容を復習できる問題を実施する。これ以外に、演習および定期試験を実施する。講義中の問題については採点は行わない。演習（実施した場合。20％）、定期試験（80％）として最終評価を付す。 |
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成績評価の方法と基準【英語】
Course Evaluation Method and Criteria | | Successful completion of the course will be based on the student's understanding of the principles of imaging, diffraction pattern acquisition, and compositional analysis methods related to transmission electron microscopy, as well as the analysis methods related to these methods.
Students will be given exercises during lectures to review the contents of the course. In addition, there will be exercises and periodic examinations. No grade will be given for the exercises in the lectures. The final evaluation will be based on exercises (20%, if available) and periodic examinations (80%). |
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履修条件・注意事項【日本語】
Course Prerequisites / Notes | | | 対面講義を基本とするが、必要に応じてNUCT上にオンデマンド講義資料も用意する。なお、オンデマンド講義資料（実施する場合には）、講義資料などについての閲覧、ダウンロード期間は講義日を含めた一週間以内とする。 |
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履修条件・注意事項【英語】
Course Prerequisites / Notes | | | On-demand lecture materials will be available on NUCT as needed. On-demand lecture materials (if available) and lecture materials may be viewed and downloaded within one week from the date of the lecture. |
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教科書【日本語】
Textbook | | 特に定めない。参考書等を講義時に紹介する。
講義中に使用する図面等の多くは、参考書として提示した書籍を利用している |
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教科書【英語】
Textbook | | Not specified. Reference books, etc. will be introduced during lectures.
Many of the drawings and other materials used in the lectures are from books presented as reference books. |
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参考書【日本語】
Reference Book | | The Transmission Electron Microscope, David B. Williams, C. Barry Carter
ISBN: 978-0-387-76500 |
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参考書【英語】
Reference Book | | The Transmission Electron Microscope, David B. Williams, C. Barry Carter
ISBN: 978-0-387-76500 |
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授業時間外学習の指示【日本語】
Self-directed Learning Outside Course Hours | | |
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授業時間外学習の指示【英語】
Self-directed Learning Outside Course Hours | | |
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使用言語【英語】
Language used | | |
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使用言語【日本語】
Language used | | |
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授業開講形態等【日本語】
Lecture format, etc. | | | 対面講義を基本とするが、必要に応じてNUCT上にオンデマンド講義資料も用意する。なお、オンデマンド講義資料（実施する場合には）、講義資料などについての閲覧、ダウンロード期間は講義日を含めた一週間以内とする。 |
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授業開講形態等【英語】
Lecture format, etc. | | | On-demand lecture materials will be available on NUCT as needed. On-demand lecture materials (if available) and lecture materials may be viewed and downloaded within one week from the date of the lecture. |
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遠隔授業（オンデマンド型）で行う場合の追加措置【日本語】
Additional measures for remote class (on-demand class) | | |
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遠隔授業（オンデマンド型）で行う場合の追加措置【英語】
Additional measures for remote class (on-demand class) | | |
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