授業の目的 【日本語】
Goals of the Course(JPN) | | 粒子線を用いた物性解析は、科学・工学分野における材料物性研究に不可欠であり、先端物性研究の基盤技術である。本講義では、粒子線（主として電子線）を用いた最先端計測の基礎を学修する。固体と粒子線の相互作用からはじめ、電子光学の基礎事項や、ナノスケール物性解析の理論と応用について学修する。粒子線を用いた物性解析に必要な結晶学の基礎についても学修することを目的とする。
この授業では，受講者が授業終了時に，上記の知識・能力を身につけていることを目
標とする。 |
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授業の目的 【英語】
Goals of the Course | | A charged particle beam has widely been used for studying the structures and properties of materials. This course provides the theory and application of charged beam engineering with a focus on transmission electron microscopy and diffractometry. This course will also provide a basic knowledge of crystallography.
The goal of this lesson is for the students to have the above knowledge and skills. |
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到達目標 【日本語】
Objectives of the Course(JPN)) | | 粒子線を用いた物性解析は、科学・工学分野における材料物性研究に不可欠であり、先端物性研究の基盤技術である。本講義では、粒子線（主として電子線）を用いた最先端計測の基礎を学修する。固体と粒子線の相互作用からはじめ、電子光学の基礎事項や、ナノスケール物性解析の理論と応用について学修する。粒子線を用いた物性解析に必要な結晶学の基礎についても学修することを目的とする。
この授業では，受講者が授業終了時に，上記の知識・能力を身につけていることを目
標とする。 |
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到達目標 【英語】
Objectives of the Course | | A charged particle beam has widely been used for studying the structures and properties of materials. This course provides the theory and application of charged beam engineering with a focus on transmission electron microscopy and diffractometry. This course will also provide a basic knowledge of crystallography.
The goal of this lesson is for the students to have the above knowledge and skills. |
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バックグラウンドとなる科目【日本語】
Prerequisite Subjects | | |
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バックグラウンドとなる科目【英語】
Prerequisite Subjects | | | Electromagnetics, Vacuum electronics(not mandatory) |
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授業の内容【日本語】
Course Content | | 概説
1.粒子線と固体の相互作用
散乱と回折、結晶中での高速電子の振る舞いについて学修する
2.電子光学基礎
幾何光学と収差・波動光学と分解能、結像理論、電子源、電子レンズについて学修する。
3.結晶学基礎
結晶の構造と対称性、点群・空間群について学修する。
4.ナノ分析への応用
電子線を用いた分析技術等などについて学修する。
毎回の授業前に、講義資料をTACTからdownloadして熟読しておくこと。 |
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授業の内容【英語】
Course Content | | 1.Physics of scattering and diffraction of charged particles. Dispersion relation of electron waves in a crystal.
2.Basics of TEM (electron source, optics. High-resolution imaging)
3.Crystallography (lattice systems and crystal symmetry)
4.Application of TEM to the nanoscale analysis of semiconducting materials (electron holography and electron energy-loss spectroscopy etc.) |
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成績評価の方法と基準【日本語】
Course Evaluation Method and Criteria | | | レポート、小テストにより評価する。100点満点中60点相当を合格とする。 |
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成績評価の方法と基準【英語】
Course Evaluation Method and Criteria | | | Examination and reports. A passing mark is 60/100. |
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履修条件・注意事項【日本語】
Course Prerequisites / Notes | | |
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履修条件・注意事項【英語】
Course Prerequisites / Notes | | | Classes are basically face-to-face, but some classes may be conducted online. |
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教科書【日本語】
Textbook | | 特に指定しない。
すべての講義の講義資料をTACTにuploadする。 |
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教科書【英語】
Textbook | | | No specific textbooks will be used. |
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参考書【日本語】
Reference Book | | 「物質からの回折と結像」(今野豊彦、共立出版)
Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science (David B. Williams, and C. Barry Carter, Springer) |
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参考書【英語】
Reference Book | | | Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science (David B. Williams, and C. Barry Carter, Springer) |
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授業時間外学習の指示【日本語】
Self-directed Learning Outside Course Hours | | 講義前に、講義資料を熟読しておくこと。
講義中に課すレポートを作成すること。 |
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授業時間外学習の指示【英語】
Self-directed Learning Outside Course Hours | | Read the lecture materials carefully before the lecture.
Prepare reports to be assigned during the lecture. |
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使用言語【英語】
Language used | | |
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使用言語【日本語】
Language used | | |
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授業開講形態等【日本語】
Lecture format, etc. | | 授業は、対面で行いますが、一部onlineで行う可能性があります。
onlineの場合の接続先は、TACTで連絡します。
授業に関する学生間の意見交換はTACTメッセージ機能を用いて行うことも可能です。 |
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授業開講形態等【英語】
Lecture format, etc. | | Classes will be conducted in person. There is a possibility that some classes will be conducted online.
The connection point for the online classes will be communicated via TACT.
Students can use the TACT message function to exchange opinions about the class. |
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遠隔授業（オンデマンド型）で行う場合の追加措置【日本語】
Additional measures for remote class (on-demand class) | | |
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遠隔授業（オンデマンド型）で行う場合の追加措置【英語】
Additional measures for remote class (on-demand class) | | |
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