学部・大学院区分
Undergraduate / Graduate		工・博後
時間割コード
Registration Code		4842357
科目区分【日本語】
Course Category
専門科目
科目区分【英語】
Course Category
Specialized Courses
科目名　【日本語】
Course Title		知能デバイスセミナー2B
科目名　【英語】
Course Title		Seminar on Intelligent Device 2B
コースナンバリングコード
Course Numbering Code
担当教員　【日本語】
Instructor		高橋 康史 ○
担当教員　【英語】
Instructor		TAKAHASHI Yasufumi ○
単位数
Credits		2
開講期・開講時間帯
Term / Day / Period		秋集中 その他 その他
Intensive(Fall) Other Other
授業形態
Course style		セミナ－
Seminar
学科・専攻【日本語】
Department / Program
電子工学専攻
学科・専攻【英語】
Department / Program
Department of Electronics
必修・選択【日本語】
Required / Selected
選択
必修・選択【英語】
Required / Selected
Choice


授業の目的　【日本語】
Goals of the Course(JPN)
講座の目的およびねらい
走査型プローブ顕微鏡およびそれを利用した計測などを理解するためには、走査型プローブ顕微鏡および種々のハードウエアおよびセンシングシステムを理解する必要がある。
知能デバイスセミナー1Bを習得することにより、以下のことができるようになることを目標とする。 1 走査型プローブ顕微鏡について理解し、走査型プローブ顕微鏡を開発できる。 ２. 種々の走査型プローブ顕微鏡を理解して用途に応じて適切なものを活用する。さらに、電気化学計測に特化した走査型プローブ顕微鏡に関して紹介する。
授業の目的　【英語】
Goals of the Course
Course objectives and objectives
To understand scanning probe microscopy (SPM), it is necessary to understand SPM hardware and various sensing systems.
The objective is to be able to do the following by learning the Intelligent Device Seminar 1B. 1 Understand SPM technology and develop SPM. 2. Understand the hardware and function of various SPMs and select them according to the application. In addition, a scanning probe microscopy specialized for electrochemical measurements will be introduced.
到達目標　【日本語】
Objectives of the Course(JPN))
講座の目的およびねらい
走査型プローブ顕微鏡およびそれを利用した計測などを理解するためには、走査型プローブ顕微鏡および種々のハードウエアおよびセンシングシステムを理解する必要がある。
知能デバイスセミナー1Bを習得することにより、以下のことができるようになることを目標とする。 1 走査型プローブ顕微鏡について理解し、走査型プローブ顕微鏡を開発できる。 ２. 種々の走査型プローブ顕微鏡を理解して用途に応じて適切なものを活用する。さらに、電気化学計測に特化した走査型プローブ顕微鏡に関して紹介する。
到達目標　【英語】
Objectives of the Course
Course objectives and objectives
To understand scanning probe microscopy (SPM), it is necessary to understand SPM hardware and various sensing systems.
The objective is to be able to do the following by learning the Intelligent Device Seminar 1B. 1 Understand SPM technology and develop SPM. 2. Understand the hardware and function of various SPMs and select them according to the application.In addition, a scanning probe microscopy specialized for electrochemical measurements will be introduced.
バックグラウンドとなる科目【日本語】
Prerequisite Subjects
電子回路
バックグラウンドとなる科目【英語】
Prerequisite Subjects
Electronic circuit
授業の内容【日本語】
Course Content
走査型プローブ顕微鏡のハードウエア、計測原理、ソフトウエアの作製方法や適切なアプリケーションに関して紹介する。
授業の内容【英語】
Course Content
This course introduces the hardware of scanning probe microscopes, measurement principles, software development methods, and suitable applications.
成績評価の方法と基準【日本語】
Course Evaluation Method and Criteria
達成目標に対しての修得度をレポートや、発表形式で評価する。レポートの内容や発表についての質問を的確に回答できれば合格とし、より発展的に課題の解決方法を述べることができれば、それに応じて成績に反映させる。
成績評価の方法と基準【英語】
Course Evaluation Method and Criteria
Evaluate the level of achievement for the goals in a report or presentation format（ Report content and the presentation)
If you can answer the question correctly, you will be accepted, and if you can describe the solution to the problem in a more advanced way, it will be reflected in your grades accordingly.
履修条件・注意事項【日本語】
Course Prerequisites / Notes
履修条件は要さない．
履修条件・注意事項【英語】
Course Prerequisites / Notes
Nothing
教科書【日本語】
Textbook
なし
教科書【英語】
Textbook
-
参考書【日本語】
Reference Book
講義の進行に合わせて適宜紹介する。
参考書【英語】
Reference Book
We will introduce appropriate books as the lecture progresses.
授業時間外学習の指示【日本語】
Self-directed Learning Outside Course Hours
授業時間外学習の指示【英語】
Self-directed Learning Outside Course Hours
使用言語【英語】
Language used
使用言語【日本語】
Language used
授業開講形態等【日本語】
Lecture format, etc.
対面授業
授業開講形態等【英語】
Lecture format, etc.
onsite class
遠隔授業（オンデマンド型）で行う場合の追加措置【日本語】
Additional measures for remote class (on-demand class)
遠隔授業（オンデマンド型）で行う場合の追加措置【英語】
Additional measures for remote class (on-demand class)