学部・大学院区分
Undergraduate / Graduate
工・博前
時間割コード
Registration Code
2842507
科目区分【日本語】
Course Category
専門科目
科目区分【英語】
Course Category
Specialized Courses
科目名 【日本語】
Course Title
情報デバイス工学特論
科目名 【英語】
Course Title
Advanced Lecture on Information Devices
コースナンバリングコード
Course Numbering Code
担当教員 【日本語】
Instructor
高橋 康史 ○
担当教員 【英語】
Instructor
TAKAHASHI Yasufumi ○
単位数
Credits
2
開講期・開講時間帯
Term / Day / Period
秋 火曜日 4時限
Fall Tue 4
授業形態
Course style
講義
Lecture
学科・専攻【日本語】
Department / Program
電子工学専攻
学科・専攻【英語】
Department / Program
Department of Electronics
必修・選択【日本語】
Required / Selected
必修・選択【英語】
Required / Selected


授業の目的 【日本語】
Goals of the Course(JPN)
最新の顕微鏡技術の動向を把握する。先端顕微鏡技術を理解し、計測原理を理解する。
授業の目的 【英語】
Goals of the Course
To stay informed about current trends in microscopy technologies. To understand advanced microscopy techniques and their measurement principles. 
到達目標 【日本語】
Objectives of the Course(JPN))
最新の顕微鏡技術の動向を把握する。先端顕微鏡技術を理解し、計測原理を理解する。
到達目標 【英語】
Objectives of the Course
To stay informed about current trends in microscopy technologies. To understand advanced microscopy techniques and their measurement principles. 
バックグラウンドとなる科目【日本語】
Prerequisite Subjects
電磁気学
バックグラウンドとなる科目【英語】
Prerequisite Subjects
Electromagnetism
授業の内容【日本語】
Course Content
1.顕微鏡の基礎
2.超解像度顕微鏡
3.走査型トンネル顕微鏡
4.走査型イオンコンダクタンス顕微鏡
5.原子間力顕微鏡
6.走査型電気化学顕微鏡
授業の内容【英語】
Course Content
Fundamentals of Microscopy

Super-Resolution Microscopy

Scanning Tunneling Microscopy (STM)

Scanning Ion Conductance Microscopy (SICM)

Atomic Force Microscopy (AFM)

Scanning Electrochemical Microscopy (SECM)
成績評価の方法と基準【日本語】
Course Evaluation Method and Criteria
レポート

レポートの課題についての回答を的確にできれば合格とし、より発展的に課題の解決方法を見出すことができれば、それに応じて成績に反映させる。
成績評価の方法と基準【英語】
Course Evaluation Method and Criteria
report

If the answer to the issue in the report can be obtained accurately, the result will be accepted. If a solution to the issue can be found in a more advanced way, it will be reflected in the grade accordingly.
履修条件・注意事項【日本語】
Course Prerequisites / Notes
履修条件は要さない.
履修条件・注意事項【英語】
Course Prerequisites / Notes
Nothing
教科書【日本語】
Textbook
こちらでスライドを配布する
教科書【英語】
Textbook
なし
参考書【日本語】
Reference Book
顕微鏡の使い方ノート 改訂第3版-はじめての観察からイメージングの応用まで(無敵のバイオテクニカルシリーズ) [全集叢書]
参考書【英語】
Reference Book
顕微鏡の使い方ノート 改訂第3版-はじめての観察からイメージングの応用まで(無敵のバイオテクニカルシリーズ) [全集叢書]
授業時間外学習の指示【日本語】
Self-directed Learning Outside Course Hours
顕微鏡の使い方ノート 改訂第3版-はじめての観察からイメージングの応用まで(無敵のバイオテクニカルシリーズ) [全集叢書]
授業時間外学習の指示【英語】
Self-directed Learning Outside Course Hours
使用言語【英語】
Language used
使用言語【日本語】
Language used
授業開講形態等【日本語】
Lecture format, etc.
授業開講形態等【英語】
Lecture format, etc.
遠隔授業(オンデマンド型)で行う場合の追加措置【日本語】
Additional measures for remote class (on-demand class)
遠隔授業(オンデマンド型)で行う場合の追加措置【英語】
Additional measures for remote class (on-demand class)
実務経験のある教員等による授業科目(大学等における修学の支援に関する法律施行規則に基づくもの)<実務経験について>
Courses taught by Instructors with practical experience(Practical experience)
実務経験のある教員等による授業科目(大学等における修学の支援に関する法律施行規則に基づくもの)<実務経験と本授業との関連性>
Courses taught by Instructors with practical experience(Relevance of the practical experience to this course)